Belardini, A.
Beléndez, A.
Bellingeri, M.
Bellini, B.
Bello-Jimenez, M.
Bellotto, L.
Ben Hatit, S.
Benabid, F.
Benchabane, S.
Benecke, W.
Bennion, I.
Bentivegna, F. F.L.
Benton, D. M., L-3 TRL Technology, Unit 19 Miller Court, Severn Drive, Tewkesbury, Gloucestershire, GL20 8DN, United Kingdom
Berg, S. A.
Berger, V.
Bergmann, R. B.
Bergmann, R. B. (Germany)
Bergmann, R. B., Bremer Institut für Angewandte Strahltechnik GmbH (BIAS), Klagenfurter Str. 2, 28359 Bremen, Germany
Bergmann, R. B., BIAS - Bremer Institut für angewandte Strahltechnik GmbH, Klagenfurter Straße 2, 28359 Bremen, Germany
Bergmann, R. B., Bremer Institut für angewandte Strahltechnik - BIAS, Klagenfurter Str. 2, D 28359 Bremen, Germany
Bergmann, R. B., BIAS - Bremer Institut für angewandte Strahltechnik, Klagenfurter Str. 2, 28359 Bremen, Germany
Bergoënd, I.
Bernabeu, E.
Bernal, M.-P.
Bernal Arango, F.
Berriel-Valdos, L. R., Luis Enrique Erro No. 1, Santa Maria Tonantzintla, San Andres Cholula, C.P. 72840, Puebla, Mexico
Berrocal, E.
Bertani, F. R., CNR-ISC Via del Fosso del Cavaliere 100, 00133 Roma, Italy
Berti, L.
Bertoldi, A.
Bertolotti, M.
Bertolotti, M. L.
Bertolotti, Mario
Besbes, M.
Bhattacharya, N.
Biallo, D.
Bianco, G., National Research Council, Institute for Microelectronics and Microsystems, Via P. Castellino 111, 80131 Napoli, Italy
Bibby, M., Zeeko Ltd, Coalville, LE67 3FW, UK
Bidani, L.
Bienstman, P.
Bigué, L.
Bilotti, F.
Biswas, A.
Biswas, P.
Bittner, R. F.
Blümich, A., SENTECH Instruments GmbH, Schwarzschildstraße 2, 12489 Berlin, Germany
Bliss, D.
Bociort, F., Delft University of Technology, Department of Imaging Physics, Delft, 2628 CH, The Netherlands
Bock, M.
Bodermann, B.

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